Diese Woche nahm unser Kollege Dominik Koch an der 2026 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) teil, wo er Forschungsergebnisse des ILH zum Einsatz von künstlicher Intelligenz und maschinellem Lernen für die Charakterisierung, Modellierung und Zuverlässigkeitstestung von SiC- und GaN-Leistungsbauelementen vorstellte. Der Vortrag mit dem Titel „AI-Driven Digital Twins for Design, Characterization and Reliability of GaN and SiC Power Devices and Systems" war Teil einer special Industrysession zum Thema „AI and Digital Twins Transforming Power Device Innovation", organisiert von PSMA, Stephanie Butler, Kevin Hermanns und Jaume Roig.
Vielen Dank an alle Zuhörerinnen und Zuhörer sowie an die Mitwirkenden dieser Arbeit Diego Kuderna-Melgar, Jeremy Nuzzo, Oleksandr Solomakha, Tobias Fink, Valentyna Afanasenko und Ingmar Kallfass.
