🎉 Vom 6. bis 8. Mai findet die PCIM 2025 in Nürnberg statt - die internationale Leitmesse für Leistungselektronik, intelligente Antriebstechnik, erneuerbare Energien und Energiemanagement!
🧑🔬 Wir sind mit drei spannenden Konferenzbeiträgen vertreten:
- Aline Reck: „Accuracy Comparison of Temperature Sensors for Thermal Characterization of GaN Transistors“ - 06. Mai, 14:50-15:10
- Ruben Schnitzler: „10 MHz Accelerated Gate-Switching Stress Tests with In-Situ Degradation Monitoring of SiC MOSFETs“ - 06. Mai, 15:30-17:00
- Mathias Weiser: „A Simulation Model for SiC Power Devices Including Thermal Effects and Package Parasitics“ - 07. Mai, 15:30-17:00
🔬 Besuchen Sie uns am 07.05.2025 in der University Research Zone (Halle 4, Stand 314) und entdecken Sie unsere neuesten Forschungsergebnisse zu „Advanced Reliability Testing, Characterization and Simulation of Wide-Bandgap Semiconductors“!
🤝 Kommen Sie vorbei und diskutieren Sie mit uns über aktuelle Forschung auf dem Gebiet der Wide-Bandgap-Leistungshalbleiter!
Weiter Informationen: https://pcim.mesago.com/nuernberg/en/expo/visitors/university-research-zone.html
