KDT JU ARCHIMEDES

In diesem Projekt soll für die zunehmende Elektrifizierung des Automobilverkehrs die Lebensdauer der hierfür wichtigen elektronischen Komponenten untersucht werden. Gerade in Hochvolt-Teil der Wechselrichter spielen Traktionsinverter auf SiC-Transistor-Basis eine herausragende Bedeutung. Für eine Auslegung des Gesamtsystems auf eine lange Lebensdauer von 20 Jahren und mehr gibt es hierfür jedoch nur begrenztes Wissen über die Langzeitnutzung. Derzeit erfolgt die Ermittlung der Lebensdauer mithilfe klassischer Lebensdauermodelle. Diese wurden für Aufbau- und Verbindungstechniken entwickelt, die auf Silizium IGBTs basieren und nicht unangepasst auf SiC-MOSFET übertrag bar sind. Daher können aktuelle Modelle nur bedingt zur Lebensdauerbestimmung moderner Leistungshalbleiter eingesetzt werden. In diesem Projekt soll eine applikationsnahe beschleunigte Lebensdauertestbench in Betrieb genommen. Mithilfe von Erfassungsschaltungen der beschleunigten Lebensdauertest soll während des Betriebs ein State-of-Health-Monitoring vorgenommen und mit einem Degradationsmodell verbunden werden, um die Lebensdauer einzelner Komponente genau vorherzusagen.