Projektvorhaben
Das Projekt zielt darauf ab, die Strahlungsfestigkeit von Galliumnitrid (GaN)-basierten Leistungstransistoren für den Einsatz in Satellitenanwendungen zu optimieren. GaN-Bauelemente ermöglichen kompaktere und effizientere Spannungswandler mit höherer Leistungsdichte und verbessertem Wirkungsgrad. Diese Eigenschaften sind insbesondere für Raumfahrtanwendungen entscheidend, da sie Gewicht, Platzbedarf und Energieverluste reduzieren.
Für Hochvolt-Anwendungen (>200 V) erfordern GaN-Bauelemente spezielle technologische Anpassungen, wie etwa selbstsperrende HEMTs und den Einsatz von Feldplatten, um die Durchbruchfestigkeit zu steigern. Allerdings führen diese Maßnahmen oft zu Ladungsträgerfehlstellen (Traps), die sich negativ auf die Strahlungsfestigkeit auswirken und den Einsatz in strahlungsintensiven Umgebungen wie der Raumfahrt erschweren.
Unser Forschungsprojekt überträgt die bereits in der Elektromobilität und Energietechnik bewährte GaN-Technologie auf Raumfahrtanwendungen. Durch gezielte experimentelle Untersuchungen wollen wir die Strahlungsfestigkeit von GaN-Hochvolt-Bauelementen verbessern und ihre Leistungsfähigkeit in extremen Umgebungen sichern. Gemeinsam mit unseren Partnern, darunter TESAT-Spacecom, das Fraunhofer Institut für Angewandte Festkörperphysik (IAF) und das Institut für Mikroelektronik Stuttgart (IMS), führen wir Strahlungstests durch und entwickeln präzise Modelle für Traps sowie leistungsstarke leistungselektronische Schaltungen.
Das Ziel des Projekts ist die Entwicklung eines hochintegrierten 100-Watt-Stromversorgungsmoduls für Satelliten, das herkömmliche Technologien in Bezug auf Volumen und Gewicht deutlich übertrifft. Dieses Modul wird einen wesentlichen Beitrag zur Weiterentwicklung der Satellitentechnologie leisten und zielt darauf ab, den Technologiereifegrad TRL5 zu erreichen.
Projektpartner
Institut für Robuste Leistungshalbleitersysteme
Das Institut für Robuste Leistungshalbleitersysteme der Universität Stuttgart übernimmt im Projekt ENSPECT die Projektleitung. Das ILH führt die Charakterisierung und Modellierung (ASM-HEMT) der GaN-Bauelemente durch und entwickelt die elektrische Schaltung und das Layout der Leitanwendung (DC/DC-Wandler) mit GaN-Transistoren.
Tesat-Spacecom GmbH
Die Firma Tesat-Spacecom erstellt die Spezifikationen der GaN-Schaltkomponente für die Raumfahrtanwendung und führt Strahlungstests an den ausgewählten GaN-Bauelementen durch, erstellt Teststrukturen und ICs für Strahlungstests und analysiert die Strahlungsresistenz.
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik
Das Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik stellt strahlungsresistente GaN-Leistungstransistoren bereit, entwickelt spezialisierte Schaltkomponenten für die Leitanwendung und führt On-Wafer- und elektrische Vorcharakterisierungen durch.
Institut für Mikroelektronik Stuttgart
Das IMS Chips unterstützt das Projekt durch elektrische und thermische Messungen der Bauelemente vor und nach den Bestrahlungstests, durch Modellierungen und durch Untersuchungen der dynamischen Eigenschaften und der Trapping-Effekte in den Bauelementen.
Projektförderung
Das Projekt ENSPECT wird finanziell vom Deutschen Zentrum für Luft- und Raumfahrt und dem Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz unter dem Förderkennzeichen 50PS2401A unterstützt.
News
Kontakt
Aline Reck
M.Sc.Wissenschaftliche Mitarbeiterin
Dominik Koch
M.Sc.Gruppenleiter Leistungselektronik / Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Ingmar Kallfass
Prof. Dr.-Ing.Direktor und Institutsleiter