Das ILH hat zusammen mit den Partnern das neue EU-Projekt EUREKA Xecs FA2IR (Failure Analysis - AI-Readiness and Application) gestartet. In FA2IR wird das ILH die Anwendung von Methoden der Künstlichen Intelligenz auf Datenbanken in der mikroelektronischen Fehleranalyse untersuchen und neue Methoden zur Integration heterogener Datenquellen für die KI-gestützte Fehleranalyse von Halbleiterbauteilen entwickeln.
Weitere Informationen finden Sie auf der Projektwebseite:
https://www.ilh.uni-stuttgart.de/en/research/pe/Xecs-FA2IR/